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Eksma 光學平麵--光學元件

簡要描述:Eksma 光學平麵--光學元件
光學平麵用於(yu) 測試和評估其他光學元件。在公寓和被評估對象之間的空氣中會(hui) 形成幹涉圖案,通常通過公寓而不是通過對象可以看到這種圖案。圖案由交替的亮帶和暗帶或條紋組成,它們(men) 是氣膜厚度的輪廓圖。如果光學元件的表麵比要評估的表麵明顯平坦,則將幹涉圖樣直接解釋為(wei) 要評估的表麵的輪廓圖是正確的。

  • 產品品牌:Eksma
  • 廠商性質:代理商
  • 更新時間:2021-03-23
  • 訪  問  量:986

詳細介紹

品牌Eksma價格區間麵議
組件類別光學元件應用領域醫療衛生,環保,化工,電子/電池,綜合

Eksma 光學平麵--光學元件


Eksma 光學平麵--光學元件

光學平麵用於(yu) 測試和評估其他光學元件。我們(men) 提供單麵光學平麵,其參考麵的平坦度為(wei) λ/ 20 @ 633 nm。

產(chan) 品介紹

Ø參考麵的平麵度:λ/ 20

Ø非常適合測試和評估其他光學組件

光學平麵用於(yu) 測試和評估其他光學元件。在公寓和被評估對象之間的空氣中會(hui) 形成幹涉圖案,通常通過公寓而不是通過對象可以看到這種圖案。圖案由交替的亮帶和暗帶或條紋組成,它們(men) 是氣膜厚度的輪廓圖。如果光學元件的表麵比要評估的表麵明顯平坦,則將幹涉圖樣直接解釋為(wei) 要評估的表麵的輪廓圖是正確的。

如果將平麵用於(yu) 對象的頂部,並且通過平麵看到幹涉圖案,則在平麵的頂表麵(不接觸被評估對象的表麵)上具有抗反射鍍膜是有利的。

產(chan) 品型號

型號

直徑D

厚度T

230-1208E

ø 25.4 mm

8.0 mm

230-1208M

ø 25.0 mm

8.0 mm

230-1410E

ø 38.1 mm

10.0 mm

230-1410M

ø 40.0 mm

10.0 mm

 

材料

UV FS

直徑公差

+0.00, -0.12 mm

一表麵平整度:

λ/20 @ 633 nm

二表麵平整度:

2 λ @ 633 nm

厚度公差

±0.2 mm

 

產(chan) 品谘詢

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