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品牌 | Eksma | 價格區間 | 麵議 |
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組件類別 | 光學元件 | 應用領域 | 醫療衛生,環保,化工,電子/電池,綜合 |
Eksma 光學平麵--光學元件
Eksma 光學平麵--光學元件
光學平麵用於(yu) 測試和評估其他光學元件。我們(men) 提供單麵光學平麵,其參考麵的平坦度為(wei) λ/ 20 @ 633 nm。
產(chan) 品介紹
Ø參考麵的平麵度:λ/ 20
Ø非常適合測試和評估其他光學組件
光學平麵用於(yu) 測試和評估其他光學元件。在公寓和被評估對象之間的空氣中會(hui) 形成幹涉圖案,通常通過公寓而不是通過對象可以看到這種圖案。圖案由交替的亮帶和暗帶或條紋組成,它們(men) 是氣膜厚度的輪廓圖。如果光學元件的表麵比要評估的表麵明顯平坦,則將幹涉圖樣直接解釋為(wei) 要評估的表麵的輪廓圖是正確的。
如果將平麵用於(yu) 對象的頂部,並且通過平麵看到幹涉圖案,則在平麵的頂表麵(不接觸被評估對象的表麵)上具有抗反射鍍膜是有利的。
產(chan) 品型號
型號 | 直徑D | 厚度T |
230-1208E | ø 25.4 mm | 8.0 mm |
230-1208M | ø 25.0 mm | 8.0 mm |
230-1410E | ø 38.1 mm | 10.0 mm |
230-1410M | ø 40.0 mm | 10.0 mm |
材料 | UV FS |
直徑公差 | +0.00, -0.12 mm |
一表麵平整度: | λ/20 @ 633 nm |
二表麵平整度: | 2 λ @ 633 nm |
厚度公差 | ±0.2 mm |
產(chan) 品谘詢